Semiconductor / Equipment / E-TEST
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- 測定装置・プローバ
- E-TEST / Parametric Test
- 製造プロセス
Manufacturing × Mathematics × Intelligence
Semiconductor Manufacturing
Process Informatics / BI / AI
Measurement Technology & Engineering Consulting
Turning Manufacturing Data into Real Value
現場の実データから原因を理解し、改善アクションへ。装置の状態と素子特性をつなぐM&Mの技術提案。

製造10工程の装置コンポーネントの実測値・制御値・健全性データと、E-TESTの素子特性を関連付けるM&Mの技術提案。
※写真は技術資料内の画像を使用したイメージです。
4資料と技術解説を見る →半導体製造現場の経験を、技術・データ・教育へ
高耐圧・微小電流・E-TEST・装置診断・歩留まり改善を中心とした技術支援。
工程・装置・E-TESTデータを統合し、可視化・解析・RCAへ接続。
高電圧測定、微小リーク、測定環境、プローバ・プローブカード最適化。
技術教育、DOE、研究機関・装置メーカー・企業との共同技術活動。
TECHNICAL ADVISORY & COLLABORATION
40年以上の半導体製造・TEST現場経験を活用し、製造・測定・装置・品質・データ解析の技術課題の解決と、企業間の技術連携を支援します。
半導体製造 / E-TEST / Tester・Prober / 高耐圧・微小電流測定 / 歩留まり・品質解析 / Process Informatics / BI・AI
技術顧問サービスの詳細を見る →With data and engineering insight, we create a better future of semiconductor manufacturing together.
Semiconductor Manufacturing & Technology Intelligence
Public Edition / Sample Issue
P1 | Semiconductor Market Monitor — 世界市場を定点観測
P2 | Industry Focus — 今月の重要テーマ
P3 | Academic Watch — 応物誌等の記事 + 安藤コメント
P4 | Semiconductor Basics / Manufacturing LL — 教育資料
View Monthly Letter - Oct 2026Technical consulting, collaboration, and engineering inquiries are welcome.
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Base:
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